Analiza składu pierwiastkowego odgrywa bardzo ważną rolę w wielu branżach. Dzięki badaniom wykonywanym przez wysoko wykwalifikowany personel możliwe jest uzyskanie dokładnych i nieprzekłamanych wyników. Analiza z użyciem ICP-OES, czyli metody spektroskopii emisyjnej z plazmą wzbudzoną indukcyjnie daje możliwość badania substancji różnego typu.
Na czym polega badanie metodą spektroskopii emisyjnej?
Badanie wykonywane jest za pomocą spektrometru emisyjnego. Umożliwia dokładne oznaczenie ilości pierwiastków w próbkach, nawet do dziesiątych części µg/L. Każdy pierwiastek ma określoną długość fali. Oznaczenie go za pomocą spektrometru polega na pomiarze intensywności promieniowania tej fali.
ICP wzbudzane jest przez plazmę argonową o temperaturze ok. 7500°C. Następuje w niej atomizacja pierwiastka, dzięki której dochodzi do emisji promieniowania. Promieniowanie wyemitowane przez pierwiastki w spektrometrze przechodzi do monochromatora, w którym następuje rozszczepianie i rozdzielanie fali na poszczególne linie widmowe. Linie te doprowadzane są do fotopowielaczy, które przetwarzają sygnał optyczny na cyfrowy.
Dzięki analizie z użyciem ICP-OES możliwe jest poznanie składu chemicznego, czyli zawartości podstawowych pierwiastków wchodzących w skład próbki wody czy kamienia kotłowego.
Cechy analizy z użyciem ICP-OES
Analiza ICP-OES jest szybka i bezpieczna. Umożliwia pomiar jednego pierwiastka oraz analizę wielopierwiastkową nawet do 75 pierwiastków. Pozwala również oznaczać zarówno składniki główne, jak i śladowe w tej samej próbce. Wysoka temperatura plazmy umożliwia oznaczenie pierwiastków mających wysoki potencjał wzbudzania, np. chloru czy siarki. Dzięki temu, że w tej metodzie nieużywany jest tlen, nie występują zakłócenia w pomiarze. Do przeprowadzenia analizy ICP-OES konieczne jest wykorzystywanie odczynników o bardzo wysokiej czystości. W trakcie badania niezbędna jest kontrola temperatury otoczenia.
Metoda ta jest badaniem porównawczym. Aby dokonać pomiaru, konieczne jest wykreślenie wzorcowej krzywej kalibracyjnej.
